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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。
A、面积大的，当量也一定大
B、面积大的，当量不一定比面积小的大
C、面积大的，当量反而比面积小的小
D、它们的当量相等